Ziele:

Erreichen der physikalisch möglichen Ortsauflösung von STM und AFM

• optimale physikalische Sensoreigenschaften
• tiefe Temperaturen
• chemisch definierte Spitzen

Verständnis der Wechselwirkung Spitze-Probe verbessern

Vereinfachung der Rastersondenmikroskopie für

• Einsatz in schwierigen Umgebungsbedingungen (UHV, tiefe Temperaturen)

• Werkzeug zum Studium von Isolatoren

1. abbilden, 2. identifizieren, 3. manipulieren beliebiger Atomsorten auf beliebiegen Oberflächen (kristallin & amorph) in allen Umgebungen (Vakuum, Gas, Flüssigkeit)