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Ziele:


  • Erreichen der physikalisch möglichen Ortsauflösung von STM und AFM

    • optimale physikalische Sensoreigenschaften
    • tiefe Temperaturen
    • chemisch definierte Spitzen

  • Verständnis der Wechselwirkung Spitze-Probe verbessern

  • Vereinfachung der Rastersondenmikroskopie für

    • Einsatz in schwierigen Umgebungsbedingungen (UHV, tiefe Temperaturen)

    • Werkzeug zum Studium von Isolatoren

  • 1. abbilden, 2. identifizieren, 3. manipulieren beliebiger Atomsorten auf beliebiegen Oberflächen (kristallin & amorph) in allen Umgebungen (Vakuum, Gas, Flüssigkeit)

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AG Prof. Gießibl

 

W(110)
Sekretariat Petra Wild

Tel: +49 (0)941943-2106

Fax: +49 (0)941943-2754

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