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Ehrung für Pionier der Rasterkraftmikroskopie

Regensburger Physiker erhält bedeutende Auszeichnung der Amerikanischen Physikalischen Gesellschaft


Pressemitteilung vom 30. April 2014

Prof. Dr. Franz J. Gießibl vom Institut für Experimentelle und Angewandte Physik der Universität Regensburg wurde mit dem diesjährigen „Joseph F. Keithley Award for Advances in Measurement Science“ ausgezeichnet. Der Physiker erhielt die international renommierte Auszeichnung für die Entwicklung von neuartigen Sensortechnologien für die Rastkraftmikroskopie. Die Ehrung wurde von Prof. Dr. Malcolm Beasley, dem Präsidenten der Amerikanischen Physikalischen Gesellschaft, vorgenommen. Mit der Auszeichnung ist ein Preisgeld in Höhe von 5.000 US-Dollar verbunden.

Gießibl gilt als Pionier der Rasterkraftmikroskopie, die heute eine wichtige Untersuchungsmethode in der Oberflächenchemie darstellt. Sie ermöglicht eine detaillierte Abtastung von Oberflächen und die Messung atomarer Kräfte auf der Nanometerskala. In diesem Zusammenhang ist der Regensburger Forscher der Erfinder des sogenannten qPlus Sensors, einem auf einem Quarzfederbalken basierenden hochempfindlichen Sensor für die Kraftmikroskopie. Im Rahmen der Preisverleihung fand während der Frühjahrstagung der Amerikanischen Physikalischen Gesellschaft im März in Denver/USA ein Symposium statt, bei dem Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler aus Großbritannien, China, der Schweiz und Deutschland sowie der Preisträger über ihre Forschungen in den Nanowissenschaften berichteten, die durch die Anwendung des qPlus Sensors möglich sind.

Zudem wurde die Technik der Rasterkraftmikroskopie von Gießibl und seiner Regensburger Arbeitsgruppe in den letzten Jahren maßgeblich weiterentwickelt. So gelang 2012 die quantitative Messung der Symmetrie von Bindungskräften auf atomarer Ebene mit höchster Präzision. Dieses Messverfahren lässt sich auch für weitere Untersuchungen der Nanowelt modifizieren. Ein „Atlas“ der Kräftewirkungen im atomaren Bereich ist so für die Zukunft denkbar. Darüber hinaus haben die Regensburger Forscher 2013 ein neues Verfahren zur Erforschung von Reibungskräften auf atomaren Oberflächenstrukturen entwickelt.

Gießibl studierte Physik an der Eidgenössischen Technischen Hochschule Zürich und an der Technischen Universität München, wo er 1988 seine Diplomarbeit über experimentelle Halbleiterphysik schrieb. 1992 promovierte er an der Ludwig-Maximilians-Universität München mit einer Studie zur Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskopie. Von 1996 bis 2006 war Gießibl als Leiter der Rastersondenmikroskopiegruppe an der Universität Augsburg tätig, wo er 2001 auch habilitierte. Seit 2006 ist er Inhaber eines Lehrstuhls für Experimentelle und Angewandte Physik an der Universität Regensburg.


Ansprechpartner für Medienvertreter:
Prof. Dr. Franz J. Giessibl
Universität Regensburg
Institut für Experimentelle und Angewandte Physik
Tel.: 0941 943-2105/2106
Franz.Giessibl@physik.uni-regensburg.de

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