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Atomare Manipulation mit wohl-definierten Messspitzen mittels Rasterkraftmikroskopie bei Tieftemperatur

Rücksprache mit: Jay Weymouth/F. Giessibl

Kombinierte Messung von Lateral- und Normalkräften mit Mulitmode-AFM

Rücksprache mit: Jay Weymouth/F. Giessibl

Lateral abhängige Kraftspektroskopie an einzelnen Kohlenmonoxid-Molekülen mittels Rasterkraftmikroskopie bei Tieftemperatur

Rücksprache mit: Jay Weymouth/F. Giessibl

Optimierung einer Nanopositionierung für ein Tieftemperatur Rastersondenmikroskop

Rücksprache mit: Jay Weymouth/F. Giessibl

Inelastische Rastertunnelspektroskopie auf individuellen Tl Atomen auf TlBiSe2

Rücksprache mit: Jay Weymouth/F. Giessibl

Bestimmung der Oberflächenreaktivität mit Hilfe der
Kombination eines SECM und AFM

Rücksprache mit: Jay Weymouth/F.Giessibl

Using low-temperature atomic force microscopy for imaging and atomic manipulation

Rücksprache mit: Jay Weymouth/F. Giessibl