Ziele:
Erreichen der physikalisch möglichen Ortsauflösung von STM und AFM
- optimale physikalische Sensoreigenschaften
- tiefe Temperaturen
- chemisch definierte Spitzen
Verständnis der Wechselwirkung Spitze-Probe verbessern
Vereinfachung der Rastersondenmikroskopie für
- Einsatz in schwierigen Umgebungsbedingungen (UHV, tiefe Temperaturen)
- Werkzeug zum Studium von Isolatoren
1. abbilden, 2. identifizieren, 3. manipulieren beliebiger Atomsorten auf beliebiegen Oberflächen (kristallin & amorph) in allen Umgebungen (Vakuum, Gas, Flüssigkeit)